I. R. Walker Reliability in Scientific Research 2010,600pp
Hardback
ISBN9780521857703
本书是一本论及各种常见试验中频繁出现的技术难题及人为误差的教材。作者I.R.Walker是剑桥大学卡文迪许(Cavendish)实验室研究员。主要致力于超低温条件下超导体及与其密切相关的电子材料的物理学研究，目前已在卡文迪许实验室工作20多年。
本书为试验中遇到的技术难题提供了预防措施和解决方案，为研究人员节省了大量时间。其主题包括：真空系统中的突然泄漏；电子仪器中的电磁干扰；高灵敏度设备的振动；计算机软件的病毒。本书讨论了数值计算中的常见错误以及实验设计和实验过程中可能出现的问题。
全书共分为14章，包括：1.可靠性、人为误差以及其它一般问题的基本原理；2.数值计算；3.硬件系统的基础问题；4.商业资源中获取信息；5.仪器设计和制造中的一般问题；6.真空系统泄漏及相关问题；7.真空泵、仪表以及其它真空系统的焦点问题；8.机械设备和系统；9.低温系统；10.可见光及近可见光；11.电子系统；12.电子设备的连接、配线和布线；13.计算机的硬件、软件和信息存储；14.实验方法。本书每章都对其关键点进行了总结，以期将特定领域存在的重要潜在问题及其解决方案概括归纳。
本书包含了许多在科学研究中广泛应用的技术方法，将有益于从事自然科学和工程学的研究人员解决一些非常耗时的难题，是一部很有价值的参考书。
张文涛，
副研究员
（中国科学院半导体研究所）
Zhang Wentao，Associate Professor
（Institute of Semiconductors，CAS）